超高精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理，即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光速來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm-1000um.一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度Mprobe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8＂x 4＂x 10＂．超過精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢驗，研發使用。
超高精度MProbe 有機薄膜厚度測量儀特點：
應用廣泛：
（2）LCD,FPD領域：ITO ,Cell Gaps,Polyamides
（3）光學薄膜領域：光學涂層，介質濾波器，加硬膜，減反射膜
（4）半導體和電解質領域：氧化物，氮化物，OLED stack
實時測量和數據分析，多層，薄，厚，獨立和不均勻層
豐富的材料庫：已經有500多種常用的材料參數，新材料也容易添加，并能根據需要添加相應材料特性參數-Cauchy,Tauc- Lorentz,Cody-Lorentz,EMA 等。
靈活性：鏈接方便，使用自如：不管是在實驗室獨立使用，還是在研發或者是工廠連續生產中不間斷在線持續監測膜層，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便。
測量數據完整性 除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度。
使用人性化，功能強大 一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真能力，內部自我糾正，多樣品測量，動態監測和產品批量監測。
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產品尺寸
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8＂x 4＂x 10＂
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測量精度
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＜0.01nm or 0.01%
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穩定性
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＜0.02nm or 0.03%
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光斑尺寸
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2mm to 3um
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樣品大小
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可以小至1mm
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測量范圍
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1nm-1000um
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波長范圍
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200nm-8000nm
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如果您對這款產品感興趣的話，請致電：18916043666